量測電漿物理參數有許多不同種的方法，其中一種方法是使用雷射光照射電漿，觀察其散射情形，這種散射稱為湯木生散射，故此法稱為湯木生檢測法。
當電漿的密度極高時，所需使用的雷射光強度也必須提高，此時調控雷射的光開關─一個扭轉向列型液晶，所需承受的能量將超過負荷。
因此，其解決方法除了將液晶盒加大之外（使單位面積雷射強度降低），還必須調配出更能承受光照的液晶。
本文提出了一種新的液晶混合物，LCNP2，能夠在5*5 cm^2的面積下承受總能為3 J的雷射脈衝，以克服此問題。
（註：一般的雷射筆每秒射出的光能約為1 mJ，且分散給極多個脈衝，故單脈衝具3 J之雷射是極強的雷射）。
參考文獻
[1] Raszewski, Laser damage resistant nematic liquid crystal cell, JAP 114(5), 053104 (2013)
